Diod laser didorong nadi
Pengenalan
Daya puncak yang tinggi dan kecekapan kerja menjadikan diod laser berdenyut sebagai pilihan ideal untuk pam laser keadaan pepejal dan penentuan jarak aplikasi tersebut.
Diod laser berdenyut biasanya berfungsi pada tahap yang relatif rendah, sehingga daya rata-rata rendah, yang dapat mencapai Daya puncak yang lebih tinggi.
Oleh itu,&# 39 tidak begitu tinggi.
Sebaliknya, diod laser gelombang berterusan lebih tinggi daripada laser nadi.
Ini kerana rintangan haba peranti meningkatkan suhu persimpangan dengan ketara semasa operasi gelombang berterusan. Oleh itu, diod laser gelombang berterusan secara amnya perlu enkapsulasi dan / atau penyejukan Heat sink yang baik. Diod laser berdenyut adalah alat analisis yang kuat untuk menguji kualiti dan kecekapan terma.
Mengapa nadi diod laser gelombang berterusan?
Keupayaan diod laser gelombang berterusan yang didorong oleh nadi dalam nisbah tugas rendah sangat berguna dalam penilaian dioda. Aplikasinya boleh dibahagikan kepada dua kawasan yang luas. Yang pertama adalah ujian lulus / gagal pra-bungkus; Yang kedua adalah penilaian ciri peranti Kedua-dua aplikasi memanfaatkan pemacu impuls Dioda laser tidak menghasilkan banyak haba. Ujian dan penilaian ciri dapat diselesaikan di bawah kesan haba minimum.
Ujian pra-pakej
Untuk aplikasi seperti ini, nadi nisbah tugas rendah boleh digunakan untuk ujian wafer atau bar selepas proses pembuatan semikonduktor. Pengukuran cahaya tunggal atau lengkung L / I (output cahaya vs arus pemacu) boleh digunakan untuk GG; pra -filter" wafer setelah diproses. Ia dapat mengeluarkan wafer yang rosak sebelum kos operasi pemotongan dan pembungkusan bandit, dan menentukan hasil dan prestasi proses pembuatan. (perhatikan bahawa pengukuran relatif ujian ini lebih penting daripada ketepatan mutlak.)
Ciri-ciri ujian
Kawasan aplikasi kedua ujian nadi adalah ujian pencirian untuk peranti yang dibungkus. Banyak dokumen perindustrian yang berkaitan dengan ciri-ciri dioda laser disyorkan untuk ujian gelombang berterusan dan juga ujian gelombang nadi. (Ini berlaku dengan ta-tsy- dokumen perundingan teknikal- 000983, yang diterbitkan dalam kajian bertajuk GG; amalan jaminan kebolehpercayaan peranti optoelektronik.") Dengan membandingkan mod gelombang nadi dan gelombang berterusan, parameter seperti daya output, panjang gelombang dan arus ambang dapat diukur. Kurva diod laser biasa ditunjukkan pada rajah 1. Lengkung ini menunjukkan mod nadi nisbah tugas rendah dan mod gelombang berterusan. Peningkatan arus ambang lengkung gelombang berterusan dan sedikit penurunan kecekapan cerun (dibandingkan ke lengkung nadi) terutamanya disebabkan oleh kenaikan suhu yang disebabkan oleh rintangan termal peranti. (lebar nadi lengkung L / I secara amnya adalah 100 hingga 500 ns, yang menyumbang kurang dari 1% dari nisbah udara, jadi kesan terma tidak jelas.) Perbandingan lengkung denyut nadi dan gelombang berterusan / L juga boleh digunakan untuk menguji kualiti pemindahan haba antara muka cip / pakej. pekali suhu dapat ditentukan dengan mengira kenaikan suhu yang setara dalam mod gelombang berterusan. Kaedah ujian ini jauh lebih cepat daripada kitaran suhu. Terdapat juga kemungkinan bahawa perbezaan antara lengkung gelombang berterusan dan nadi L / I mungkin menunjukkan sambungan atau kebocoran yang buruk cip, yang biasanya bermaksud bahawa laser tidak berkualiti. Ketepatan mutlak penting untuk aplikasi ujian ini. Kerana keperluan untuk mengubah prestasi gelombang berterusan, amplitud pemacu nadi mestilah sangat tepat. Kebolehulangan juga penting untuk mana-mana permohonan ujian.